TESTER TESTER TESTER TESTER LEEB 410
Chức năng & tính năng
● Điều chỉnh bộ xử lý DSP tốc độ cao để có được phép đo nhanh.
● Với chỉ báo ma trận chấm OLED.
● Shell: ABS Kỹ thuật phun nhựa, bền, chống - nhiễu điện từ.
● Với các tiêu chuẩn ISO/ DIN/ CE/ JIS/ FCC.
● Nguồn điện: 3.7V có thể sạc lại Li - pin ion.
Đặc điểm kỹ thuật
|
Người mẫu |
Leeb 410 |
|
Tham số độ thô |
RA, RZ, RQ, RT |
|
Phạm vi đo lường |
RA: 0,05-10,0μm |
|
Nghị quyết |
0.01μm |
|
Cắt - Tắt chiều dài |
0,25mm / 0,8mm / 2,5mm |
|
Độ dài đánh giá |
1,25mm / 4mm / 5mm |
|
Chiều dài theo dõi |
6 mm |
|
Tiêu chuẩn |
ISO, DIN, ANSI, JIS |
|
Lỗi của chỉ định |
Nhỏ hơn hoặc bằng ± 10% |
|
Sự thay đổi của chỉ định |
<3% |
|
Cảm biến |
Piezocrystal |
|
Bán kính ARC & Góc cảm biến |
Bán kính của stylus cảm biến: 10,0 ± 2,5μm góc: 90 độ |
|
Lực lượng & Tỷ lệ thay đổi |
Cảm biến stylus forc: nhỏ hơn hoặc bằng 0,016N; Tỷ lệ thay đổi: nhỏ hơn hoặc bằng 800N/m |
|
Lực stylus |
Nhỏ hơn hoặc bằng 0,5n |
|
Cung cấp điện |
Có thể sạc lại 3,7v lithium - pin ion |
|
Nhiệt độ hoạt động |
0 ºC -40 ºC |
|
Cân nặng |
180g |
|
Kích thước |
105 × 75 × 24mm |
|
Cấu hình tiêu chuẩn |
Đơn vị chính, khối hiệu chuẩn, Bộ sạc điện, Hướng dẫn sử dụng nền tảng hỗ trợ, chứng chỉ, thẻ bảo hành |
Định nghĩa thuật ngữ
● Kiểm tra độ nhám bề mặt NDT là dạng hình học vi mô trên bề mặt mảnh - được cấu tạo bởi đỉnh và thung lũng với các giao lộ nhỏ.
● Chiều dài mẫu là chiều dài của điểm chuẩn được sử dụng để phân biệt độ nhám bề mặt của nó.
● Độ dài đánh giá là độ dài cần thiết để đánh giá cấu hình độ nhám. Nó có thể bao gồm một hoặc nhiều độ dài lấy mẫu.
● RA: Độ lệch trung bình không khí của cấu hình là giá trị trung bình số học của độ lệch của cấu hình trong độ dài lấy mẫu.
● RZ: Chiều cao tối đa của các bất thường là khoảng cách giữa độ sâu tối đa của các đỉnh cấu hình và độ sâu tối đa của thung lũng cấu hình trong chiều dài lấy mẫu.
Chú phổ biến: Kiểm tra độ nhám bề mặt NDT, các nhà sản xuất kiểm tra độ nhám bề mặt NDT của Trung Quốc
